SEM（走査型電子顕微鏡）
| 日本語 | SEM（走査型電子顕微鏡） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 扫描电子显微镜 |
| English | scanning electron microscope |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
定義
電子線で試料表面を走査し、形状を観察する装置。
訳し分け・誤訳の注意
「扫描电子显微镜」、略称 SEM。TEM は「透射电子显微镜」。
本ページは技術文書の翻訳実務にもとづく用語の対応関係を示すものです。 法令上の定義や適用範囲を示すものではありません。
| 日本語 | SEM（走査型電子顕微鏡） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 扫描电子显微镜 |
| English | scanning electron microscope |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
電子線で試料表面を走査し、形状を観察する装置。
「扫描电子显微镜」、略称 SEM。TEM は「透射电子显微镜」。
本ページは技術文書の翻訳実務にもとづく用語の対応関係を示すものです。 法令上の定義や適用範囲を示すものではありません。