AFM（原子間力顕微鏡）
| 日本語 | AFM（原子間力顕微鏡） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 原子力显微镜 |
| English | atomic force microscope |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
定義
探針と試料間の力を検出し、表面形状を原子スケールで観察する装置。
訳し分け・誤訳の注意
「原子力显微镜」。「原子间力显微镜」も正しいが、慣用は「原子力显微镜」。
本ページは技術文書の翻訳実務にもとづく用語の対応関係を示すものです。 法令上の定義や適用範囲を示すものではありません。
| 日本語 | AFM（原子間力顕微鏡） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 原子力显微镜 |
| English | atomic force microscope |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
探針と試料間の力を検出し、表面形状を原子スケールで観察する装置。
「原子力显微镜」。「原子间力显微镜」も正しいが、慣用は「原子力显微镜」。
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