DFT（テスト容易化設計）
| 日本語 | DFT（テスト容易化設計） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 可测试性设计 |
| English | design for test |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
定義
製造後の試験をしやすくするための設計手法。
訳し分け・誤訳の注意
「可测试性设计」、略称 DFT。信号処理の離散フーリエ変換（DFT）と略号が同じため、初出時に展開する。
本ページは技術文書の翻訳実務にもとづく用語の対応関係を示すものです。 法令上の定義や適用範囲を示すものではありません。
| 日本語 | DFT（テスト容易化設計） |
|---|---|
| 中国語（簡体字） | 可测试性设计 |
| English | design for test |
| 分野 | 半導体・電子部品 |
製造後の試験をしやすくするための設計手法。
「可测试性设计」、略称 DFT。信号処理の離散フーリエ変換（DFT）と略号が同じため、初出時に展開する。
本ページは技術文書の翻訳実務にもとづく用語の対応関係を示すものです。 法令上の定義や適用範囲を示すものではありません。